• T. Naito, S. Araki, H. Hayano, T. Ieiri, K. Kubo, S. Kuroda, T. Okugi, N. Terunuma, J. Urakawa
  高エネルギー加速器研究機構

蓄積リングに於いてチューン測定に用いられる信号処理系は通常usの信号処理時間を必要とするため、シングルバンチ運転では問題がないがバンチ間隔がnsのマルチバンチビームの振動を測定しようとした時、その振動を正しく測定することは難しい。　マルチバンチビームの振動測定に高速アナログゲートを用いることで、マルチバンチのビーム信号から目的のバンチの信号だけにゲートをかけてシングルバンチと同じ信号にし、それ以降はチューン測定に用いられる信号処理系で測定出来る様にした。このシステムによりマルチバンチビームの任意のバンチの振動の振る舞いを測定することが可能となった。 マルチバンチビームの振動測定例として、KEK-ATF DRで2.8nsのバンチ間隔を持つマルチバンチビームの個々の振動測定を行った。その結果について報告する。